单片机解密存在失败的概率，从我们解密的经验来看，按概率来讲，大概存在1％单片机解密的失败概率，单片机解密失败的原因很多，有人为因素，也有客观环境因素的影响等等，下面是集中常见的造成单片机失败的原因：
一、DECAP存在失败的可能（这种占解密失败原因的绝大部分）：
A.过腐蚀，PAD腐蚀坏，外部不能读出程序
B.芯片流片工艺不好，DECAP的时候容易腐蚀PASSVATION表层（钝化层），使管芯实效，外部无法读出程序
C.开盖的时候把PIN脚氧化（酸弄到管脚上了）
D.无意中弄断AL线
E.单片机机使用特殊封装材料，无法和酸反应
F.管芯特殊封装，不在芯片正中位置，极容易开坏（下图是MCU由2个管芯组成，通常称为MCM）
E:芯片封装的时候有杂质，无法进行化学反应。
二、FIB存在失败的可能：
A:芯片流片工艺小，位子没有找正确
B:FIB连线过长，离子注入失效
C:离子注入强度没有控制好
D:FIB设备存在问题
E:某些芯片破解，需要在同一小区域做多项FIB，或者在同一时间内，做多项FIB，那么就容易FIB出现问题。
